Code V中的差分光線追跡(下)
在上一篇文章「CODE V中的差分光線追跡(上)」中,我們說明了差分光線的定義,而在接下來的文章里,將進(jìn)一步介紹差分光線的應(yīng)用。
引言 在上一篇文章「CODE V中的差分光線追跡(上) 」中,我們說明了差分光線的定義,而在接下來的文章里,將進(jìn)一步介紹差分光線的應(yīng)用。 差分光線追跡的應(yīng)用 一階特性 差分光線數(shù)據(jù)通常用來計(jì)算光學(xué)系統(tǒng)的一階特性(事實(shí)上,一階特性通常是由差分光線數(shù)據(jù)所定義的)。對(duì)旋轉(zhuǎn)對(duì)稱的光學(xué)系統(tǒng)而言,基底光線按照慣例會(huì)對(duì)應(yīng)到系統(tǒng)軸。在這樣的情況中,系統(tǒng)的對(duì)稱性將使差分光線信息的 矩陣A、B、C和D被簡(jiǎn)化為純量A、B、C和D。 如同圖四所示,差分光線信息可被用來計(jì)算某些常見的一階特性,例如近軸影像位置及放大率。 圖四:在光學(xué)系統(tǒng)中,使用差分光線信息決定近軸影像位置及放大率 軸上光線的差分光線信息可以用同樣的方法決定光學(xué)系統(tǒng)中的基點(diǎn)(Cardinal points)位置及每個(gè)表面上的光斑近似大小。 當(dāng)系統(tǒng)沒有對(duì)稱性時(shí),計(jì)算會(huì)更加復(fù)雜,然而概念是一樣的:以物體中心出發(fā),通過孔徑光圈中心的光線做為基底光線,然后計(jì)算此光線的差分光線數(shù)據(jù),并以此結(jié)果計(jì)算影像位置與焦點(diǎn)等參數(shù)[1]。 高斯光束傳播 關(guān)于如何模擬高斯光束傳播的問題,其屬于物理光學(xué)范疇。然而,幾何光學(xué),特別是差分光線資料,也可用來模擬高斯光束的傳播?紤]一高斯光束沿軸向入射,穿越一對(duì)稱系統(tǒng),假設(shè)此光束在開始時(shí)寬度w、波前半徑R,在通過這個(gè)對(duì)稱系統(tǒng)后,寬度為w'、波前半徑為R',如圖五所示。接著計(jì)算基底光線(對(duì)應(yīng)到系統(tǒng)軸)的差分光線信息,計(jì)算結(jié)果可用來決定出射光束參數(shù),其為入射光束參數(shù)的函數(shù)[2]。 通?捎啥x一復(fù)數(shù)曲率半徑q來表示: 其中, λ為波長(zhǎng),i是負(fù)1的平方根。高斯光束在通過系統(tǒng)后的復(fù)數(shù)曲率半徑,可由入射的高斯光束及差分光線信息所決定,如下所示: 出射的高斯光束寬度及其波前曲率半徑可以由復(fù)數(shù)曲率半徑?jīng)Q定。 |
1.行業(yè)新聞、市場(chǎng)分析。 2.新品新技術(shù)(最新研發(fā)出來的產(chǎn)品技術(shù)介紹,包括產(chǎn)品性能參數(shù)、作用、應(yīng)用領(lǐng)域及圖片); 3.解決方案/專業(yè)論文(針對(duì)問題及需求,提出一個(gè)解決問題的執(zhí)行方案); 4.技術(shù)文章、白皮書,光學(xué)軟件運(yùn)用技術(shù)(光電行業(yè)內(nèi)技術(shù)文檔);
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