一種可以發(fā)現(xiàn)材料內(nèi)部缺陷的成像新方法

發(fā)布：cyqdesign 2017-07-21 12:05 閱讀：9254

上圖所示，美國桑迪亞國家實驗室的研究員Amber Dagel把校準樣品加載到實驗室的X射線相位襯度成像機上。Dagel目前在該實驗室的工作，她是使用X射線相位襯度成像機進行低密度材料研究的主要成員。圖片來源，桑迪亞國家實驗室。