X射線與極紫外XUV光譜儀
X射線與極紫外XUV光譜儀
像差校正平場入射X射線光譜儀,光譜范圍可涵蓋1-80nm.模塊化設(shè)計,可以滿足不同的實驗條件和環(huán)境。 技術(shù)參數(shù)
技術(shù)優(yōu)勢介紹: 光源可以直接成像/超強信號采集能力 相比于傳統(tǒng)的裝置,我們的XUV光譜儀不需要入射光闌,所以光源信號可以直接進(jìn)入探測器。超過80%的入射信號能被收集和探測,通光效率提高了15-25倍。 -平場成像技術(shù) 我們的儀器基于高性能色差校正的平場光柵技術(shù)。不同于傳統(tǒng)光柵,所有波長聚焦于一個平面而非圓狀形。這將提高光譜分辨率 緊湊/模塊化 光譜儀非常緊湊,能輕松與真空腔裝置栓接。本身具有高穩(wěn)定性,無需光學(xué)平臺,無外置式可移動部件。盡管非常緊湊,該光譜儀卻能保持高性能,具有諸多配置靈活性(源距離、光譜范圍、探測器種類、真空泵等) 結(jié)實耐用無需準(zhǔn)直 光譜儀的緊湊式設(shè)計使得能夠抵抗環(huán)境擾亂(震動、聲音等)。無外接可移動部件,閉環(huán)伺服控制的光柵轉(zhuǎn)臺確保絕對位置監(jiān)控增強了結(jié)實耐用性。此外,無入射狹縫設(shè)計使儀器較少受外部環(huán)境干擾。在入射光闌處沿色散方向失調(diào),將會導(dǎo)致超過20%信號下降 - 定制化 該XUV光譜儀可以按照客戶要求定制化?梢試(yán)格匹配客戶研究與應(yīng)用。 這包括與實驗倉的耦合、源距離的的搭配、集成客戶提供的探測器、用戶選定的濾光片以及支架、非磁儀器、特殊環(huán)境等 典型客戶:
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