X射線與極紫外XUV光譜儀

X射線與極紫外XUV光譜儀 G9xO>Xp^Al  
像差校正平場入射X射線光譜儀，光譜范圍可涵蓋1-80nm.模塊化設(shè)計，可以滿足不同的實驗條件和環(huán)境。 k,'MmAz  
gBWr)R  
技術(shù)參數(shù) a%a0/!U[  
波長范圍 Z8/.I  
5-20 kREFh4QO,  
10-60 Wl=yxJu_(  
25-80 6vTnm4  
光源距離（m） IO7gq+  
 (4RtoYWW  
0.4-0.6 uit.r^8l  
0.5-1.5 q9VBK(,X  
平場尺寸（mm）  q^6#.}  
25.4 G(shZ=fq  
50 .waj.9&[l  
50 R=48:XG3/K  
色散(nm/mm) Z  eY *5m  
0.5-0.7 ki2 `gLK  
0.7-1.1 !2&)6SL/  
0.9-1.3 +\dKe[j{g  
光譜分辨率（nm） :5&UWL|  
0.06 d:vc)]M>f{  
0.09 I*JJvqh  
0.11 k#~oagW_Gw  
U6wy^!_X9  
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