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    [分享]光學元件拋光亞表面損傷實驗研究 [復制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2014-06-13
    關(guān)鍵詞： 光學元件拋光表面損傷
    摘要：設計光學元件拋光亞表面損傷檢測實驗，使用原子力顯微鏡(AFM)檢測傳統(tǒng)拋光亞表面塑性劃痕與磁流變拋光亞表面塑性劃痕的最大深度，通過比較驗證磁流變拋光對亞表面塑性劃痕的抑制能力;同時利用二次離子質(zhì)譜儀的深度剖析功能檢測磁流變拋光石英樣件后表面水解層的深度，指出磁流變拋光屬于低損傷性拋光技術(shù)。 ,a N8`M  
    l{:7*U{d  
    關(guān)鍵詞：磁流變拋光；傳統(tǒng)拋光；亞表面損傷
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    學習學習. 1C,=1bY