[討論]Tracepro雜散光分析-PST理論和計(jì)算 [復(fù)制鏈接]

有三個(gè)問題： Qc1NLU9:  
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1.PST是為離軸角為θ的點(diǎn)光源經(jīng)光學(xué)系統(tǒng)在像面上產(chǎn)生的輻射照度E（ θ） 與該點(diǎn)光源位于軸上時(shí)產(chǎn)生的輻射照度E（０)的比值,這個(gè)PST是怎么表示系統(tǒng)的消光能力的？？是不是假設(shè)了對于軸上點(diǎn)沒有雜光？？但是實(shí)際上軸上點(diǎn)不可能沒有雜光的��？ 
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2.PST是E(θ）/E（0）,對應(yīng)到Tracepro里面irradiation/illumination map里面顯示的AVE在不同θ角下的比值？？ sI\v}$(~  
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3。TP追跡的時(shí)候，計(jì)算E（0）和E(θ）時(shí)，是不是要時(shí)刻保證光線全部充滿第一片鏡片的口徑？如果是的話，就需要光源的口徑有適當(dāng)?shù)淖兓�，光源尺寸變化�?huì)導(dǎo)致能量的分布變化，從而帶來模擬的誤差，正確的方法應(yīng)該是什么呢？？
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謝謝，希望指點(diǎn)！

頂一下，希望高手指點(diǎn)一二！~

第一 PST是為離軸角為θ的點(diǎn)光源經(jīng)光學(xué)系統(tǒng)在像面上產(chǎn)生的輻射照度E（ θ） 與該點(diǎn)光源位于軸上時(shí)產(chǎn)生的輻射照度E（０)的比值。這一理解是對的，實(shí)際的實(shí)驗(yàn)測量雜光也是采用這種方法。軸上同樣也有雜光，這個(gè)比值只起到歸一化的左右。 {
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第二 這一說法是對的。 ]'IZ