[討論]Tracepro雜散光分析-PST理論和計(jì)算 [復(fù)制鏈接]

有三個(gè)問(wèn)題： ~%lUzabMa  
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1.PST是為離軸角為θ的點(diǎn)光源經(jīng)光學(xué)系統(tǒng)在像面上產(chǎn)生的輻射照度E（ θ） 與該點(diǎn)光源位于軸上時(shí)產(chǎn)生的輻射照度E（０)的比值,這個(gè)PST是怎么表示系統(tǒng)的消光能力的？？是不是假設(shè)了對(duì)于軸上點(diǎn)沒有雜光？？但是實(shí)際上軸上點(diǎn)不可能沒有雜光的�。� #P!<u Lc%  
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2.PST是E(θ）/E（0）,對(duì)應(yīng)到Tracepro里面irradiation/illumination map里面顯示的AVE在不同θ角下的比值？？ z\FBN=54z  
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3。TP追跡的時(shí)候，計(jì)算E（0）和E(θ）時(shí)，是不是要時(shí)刻保證光線全部充滿第一片鏡片的口徑？如果是的話，就需要光源的口徑有適當(dāng)?shù)淖兓�，光源尺寸變化�?huì)導(dǎo)致能量的分布變化，從而帶來(lái)模擬的誤差，正確的方法應(yīng)該是什么呢？？ ?(zCv9Pg  
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謝謝，希望指點(diǎn)！

頂一下，希望高手指點(diǎn)一二！~

第一 PST是為離軸角為θ的點(diǎn)光源經(jīng)光學(xué)系統(tǒng)在像面上產(chǎn)生的輻射照度E（ θ） 與該點(diǎn)光源位于軸上時(shí)產(chǎn)生的輻射照度E（０)的比值。這一理解是對(duì)的，實(shí)際的實(shí)驗(yàn)測(cè)量雜光也是采用這種方法。軸上同樣也有雜光，這個(gè)比值只起到歸一化的左右。 gP|-A`y  
第二 這一說(shuō)法是對(duì)的。 '+l"zK]L-  
第三 點(diǎn)光源是發(fā)光球體。只有電源距離鏡頭的變化會(huì)影響系統(tǒng)的雜光系數(shù)，其他情況不會(huì)。

對(duì)于照相物鏡來(lái)說(shuō)，點(diǎn)源實(shí)際上就是平行光，所以E（ θ）應(yīng)該是以一定角度入射的平行光？~

我現(xiàn)在唯一不明白就是計(jì)算PST的時(shí)候，光源是采用平行光，還是與光軸相對(duì)于入瞳位置成一定夾角的點(diǎn)光源？~希望指點(diǎn)！

回帖賺積分的真討厭~發(fā)個(gè)帖子很快就給弄到后面去了~想賺積分去灌水的部分啊~！

同樣在搞雜散光分析，進(jìn)來(lái)學(xué)習(xí)。

第三、可以考慮用Grid Source放在第一片鏡片前面，尺寸約等於第一片鏡片，在Beam Setup的地方修改Beam Orientation Method為Direction Vectors，Normal Vector用=tan(30*pi/180)修改入射光角度，這樣就不用一直修改光源尺寸了

用點(diǎn)光源的話，只有在點(diǎn)光源離第一片鏡片很遠(yuǎn)的時(shí)候才"近似"平行光，點(diǎn)光源位置不好決定 A/:_uqm4  
而且還要?jiǎng)佑肐mportant Sampling，小麻煩 ![Gn0X?]  
用Grid Source可以方便使用Macro Scheme或DDE修改入射角度及收集Flux數(shù)據(jù)，工程師就可以不用在電腦邊苦等了 sCt)Yp+8}B  

都牛，我聽暈啦