薄膜厚度測量---激光橢偏儀

發(fā)布：myjoy88 2010-01-13 17:44 閱讀：3949
Multiple Angle Laser Ellipsometer 多入射角激光橢圓偏振儀 0^tY|(b3/M  
產(chǎn)品特點(diǎn)： r+m.! +  
高精度、高穩(wěn)定性 HI{q#  
快速、高精度樣品校正 |pS]zD  
快速測量、操作簡便 C) R hld  
多角度測量 S'^