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    [分享]光學(xué)影像測(cè)量系統(tǒng)在PCB中的應(yīng)用 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2008-04-14
    隨著PCB產(chǎn)業(yè)的突飛猛進(jìn)、特種元器件的不斷推出,表面封裝元器件趨向小型化和多功能化,這就促使印制電路板的設(shè)計(jì)和印制電路板制造技術(shù)更趨向高密度、高可靠和高精密度方向發(fā)展,以適應(yīng)電子產(chǎn)品小型化和多功能化的發(fā)展和需要。而且PCB產(chǎn)品也向著超薄型、小組件、高密度、細(xì)間距方向快速發(fā)展。線路板上元器件組裝密度提高,PCB的線寬、間距、焊盤(pán)越來(lái)越細(xì)小,已到微米級(jí),復(fù)合層數(shù)越來(lái)越多。傳統(tǒng)的人工目測(cè)(MVI)和針床在線測(cè)試(ICT)檢測(cè)因“接觸受限”(電氣接觸受限和視覺(jué)接觸受限)所制,已不能完全適應(yīng)當(dāng)今制造技術(shù)發(fā)展的需要。在 PCB上通常需進(jìn)行各種尺寸之圓孔的鉆孔加工,而加工后圓孔的幾何尺寸及位置將影響其與IC組件及其它電子裝置的后續(xù)組裝制程。另一方面由于在PCB板上之圓孔數(shù)量龐大,傳統(tǒng)的MVI和ICT技術(shù)已經(jīng)不能適應(yīng)如此快速的進(jìn)程,基于產(chǎn)能及品質(zhì)的要求,極需要具快速且精密的檢測(cè)方法。有鑒于此, PCB電路板行業(yè)發(fā)展全自動(dòng)光學(xué)影像檢測(cè)系統(tǒng)用于監(jiān)視和保證生產(chǎn)過(guò)程的品質(zhì),已經(jīng)成為PCB板制造業(yè)的必然需求。 = -bGH   
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    1、光學(xué)影像檢測(cè)系統(tǒng)的作用 P K+rr.k]  
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    光學(xué)影像測(cè)量系統(tǒng)為現(xiàn)代制造機(jī)械的關(guān)鍵性設(shè)備,并廣泛應(yīng)用于機(jī)器視覺(jué)應(yīng)用領(lǐng)域,如檢測(cè)、逆向工程及其它自動(dòng)化工業(yè)。隨著高科技工業(yè)的發(fā)展,過(guò)去許多產(chǎn)品檢測(cè)方式,現(xiàn)今已要求由自動(dòng)化及非接觸方式進(jìn)行檢測(cè)。以PCB行業(yè)為例,光學(xué)影像檢測(cè)系統(tǒng)的作用是檢測(cè)PCB在制造過(guò)程中的尺寸規(guī)范,進(jìn)行過(guò)程控制,通過(guò)改正工藝來(lái)消除或減少缺陷。通常把光學(xué)影像檢測(cè)系統(tǒng)置于關(guān)鍵位置,監(jiān)控具體生產(chǎn)狀況,并為生產(chǎn)工藝的調(diào)整提供必要的依據(jù)。 X8 $Y2?<  
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    在PCB制造過(guò)程中,需檢測(cè)的項(xiàng)目:菲林熱脹冷縮的檢測(cè)、產(chǎn)品外觀檢測(cè)、各元素位置檢測(cè)、長(zhǎng)寬高度檢測(cè)、真直度檢測(cè)、真圓度檢測(cè)、孔毛邊檢測(cè)等。 <?Ln`,Duk  
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    2、光學(xué)影像檢測(cè)系統(tǒng)框圖 ~%chF/H  
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    光學(xué)影像檢測(cè)系統(tǒng)主要由工作臺(tái)、驅(qū)動(dòng)控制、CCD攝像系統(tǒng)及軟件系統(tǒng)4大部分組成。 |E?PQ?P  
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    3、光學(xué)影像檢測(cè)系統(tǒng)的工作原理 Iip%er%b  
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    自動(dòng)光學(xué)影像檢測(cè)系統(tǒng),核心結(jié)構(gòu)是一套CCD攝像系統(tǒng)、交流伺服控制x、y工作臺(tái)及圖像處理系統(tǒng)! ≡谶M(jìn)行檢測(cè)時(shí),首先將需要檢測(cè)的印刷線路板置于光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)的工作臺(tái)面上,經(jīng)過(guò)定位,調(diào)出需要檢測(cè)產(chǎn)品的檢測(cè)程序,x、y工作臺(tái)將線路板送到鏡頭下面,鏡頭捕捉到線路板的圖像后,處理器將會(huì)在x、y工作臺(tái)移至下一個(gè)位置進(jìn)行捕捉,然后進(jìn)行相應(yīng)的計(jì)算。通過(guò)對(duì)圖像進(jìn)行連續(xù)處理,獲得較高的檢測(cè)速度。光學(xué)影像檢測(cè)系統(tǒng)通過(guò)程序自動(dòng)對(duì)PCB進(jìn)行尺寸規(guī)范,可輸入需要測(cè)量的實(shí)際值與公差,經(jīng)過(guò)分析、處理和判斷,發(fā)現(xiàn)缺陷并進(jìn)行位置提示,同時(shí)生成文件,等待操作者進(jìn)一步確認(rèn)或送有關(guān)部門(mén)進(jìn)行改良。 whi#\>i  
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    4、光學(xué)影像檢測(cè)系統(tǒng)的工作流程 #Z. QMWq  
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    光學(xué)影像檢測(cè)系統(tǒng)工作流程框圖如圖3所示。 *"nN