在過去的幾十年里,很少有其它檢測儀器像
光學(xué)投影比較儀那樣測量快捷、使用方便。光學(xué)投影比較測量是將投射到投影屏上的工件放大輪廓與繪制有按比例放大的工件正確外形及公差帶的透明膠片進(jìn)行對比,以直接判定工件合格與否。雖然隨著采用電子技術(shù)、精度更高的幾何形貌測量技術(shù)的發(fā)展,光學(xué)比較測量這種簡單的檢測方式已顯得有些過時(shí),但投影比較儀仍然是生產(chǎn)車間最常用的視覺檢測儀器。
SwsJ<Dq^z #.rkvoB0N 與此同時(shí),其它高技術(shù)
測量儀器的測量能力在不斷提高,如基于
視頻攝像機(jī)的視覺檢測系統(tǒng)能夠降低操作者的人為誤差,使微小的工件形貌可見和可測。雖然并非在所有加工場合都需要使用這些儀器的全部功能,但在需要檢測工件的細(xì)微結(jié)構(gòu)或進(jìn)行三維測量時(shí),這些測量功能的價(jià)值就顯示出來。當(dāng)采用基本型投影比較儀或視覺檢測系統(tǒng)無法對被測工件形貌進(jìn)行充分
照明時(shí),儀器開發(fā)商就開始著手增加儀器的測量功能,將其檢測能力升級到更高水平。
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eL>wKu:r 關(guān)于光學(xué)投影比較儀將被淘汰的說法不僅言過其實(shí),而且是完全錯(cuò)誤的。事實(shí)上,近年來出現(xiàn)了購買和使用投影比較儀的熱潮,擁有十幾臺(tái)以上投影比較儀的生產(chǎn)廠家在不斷增加。投影比較儀的流行基于一個(gè)簡單而為大家所熟知的事實(shí):使用方便,非常適合在生產(chǎn)車間現(xiàn)場使用。目前,投影比較儀的銷售量并不遜于甚至超過了視覺測量系統(tǒng)的銷售量(雖然年輕一代的工人可能更欣賞視頻攝像機(jī)和監(jiān)視器)。
tm/=Oc1p 8 :WN@ 投影比較儀的優(yōu)點(diǎn)是經(jīng)久耐用,而且屬于低技術(shù)產(chǎn)品,結(jié)構(gòu)相當(dāng)簡單(僅包括一個(gè)工作臺(tái)、一組
透鏡、一個(gè)
光源、一個(gè)投影屏和一面反射鏡)。今后,投影比較儀在車間的作用或許會(huì)被視頻攝像測量系統(tǒng)所取代(目前視頻測量系統(tǒng)通常安放在計(jì)量室,主要用于終檢工序)。既然視頻測量系統(tǒng)的檢測功能與投影比較儀有相似之處,為什么不能將兩種儀器合而為一呢?為此,Starrett公司在它的臥式投影比較儀上重新設(shè)計(jì)了OV2光學(xué)/視頻轉(zhuǎn)接器,以增強(qiáng)其易用性。該公司自幾年前首次開發(fā)出OV2系統(tǒng)后,現(xiàn)在對于在投影比較儀上使用視頻測量系統(tǒng)的效益抱有更高的預(yù)期。為此,公司更換了系統(tǒng)原有的硬件聯(lián)接方式,將視頻圖像輸出與投影比較儀的讀數(shù)器組合到QC300觸摸
顯示屏上。該系統(tǒng)可通過切換安裝在HD400投影比較儀滑軌上的兩組透鏡,實(shí)現(xiàn)光學(xué)測量方式與視頻測量方式的相互轉(zhuǎn)換。
XHxJzYMc k-H6c 在必須將工件從投影比較儀再送到其它儀器(如視頻測量系統(tǒng)或萬工顯)上作進(jìn)一步檢測的情況下,就可以充分體現(xiàn)出組合測量方式的潛在價(jià)值。用戶或許可以用投影比較儀的低倍放大鏡完成大部分測量工作,但OV2系統(tǒng)卻能完成用投影比較儀難以完成的檢測任務(wù)。
,,H;2xYf m.rV1#AI QC300觸摸顯示屏的應(yīng)用可使投影比較儀用途更廣泛、讀數(shù)更精確,它能顯示X-Y讀數(shù)和測量數(shù)據(jù),同時(shí)內(nèi)置的視頻卡可支持視頻攝像機(jī)的實(shí)時(shí)圖像。此外,它還具有CNC視頻系統(tǒng)普遍具有的視頻邊緣檢測功能,即可通過掃描在顯示器十字瞄準(zhǔn)線周圍圓形區(qū)內(nèi)的圖像,對工件的邊緣點(diǎn)進(jìn)行自動(dòng)檢測和定標(biāo),從而可消除操作者用十字線肉眼瞄準(zhǔn)工件邊緣造成的主觀人為誤差。
)!kt9lK Mq#m;v$E 視頻攝像機(jī)還能突破光學(xué)測量基本放大倍數(shù)的局限。投影比較儀透鏡組的放大倍數(shù)通常為25~100倍,如果需要更高的放大倍數(shù)以測量微小零件或看清零件的微細(xì)結(jié)構(gòu),就必須采用更小的透鏡組,而這意味著通過透鏡的光量更少,視場更暗,以致無法看清圖像。而視頻攝像機(jī)具有更強(qiáng)的照明功能,利用視場透鏡,可以達(dá)到250倍的放大倍數(shù),且不會(huì)減弱視場亮度,因此可以檢測更小的工件形貌。
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