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光學檢測、光學測量與光機裝調
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光學表面檢測的理論依據
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光學表面檢測的理論依據
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易水河
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樓主
發(fā)表于: 2007-08-25
各位大俠:
[gkOwU=?
在光學冷加工車間來判斷光學表面是否符合要求,一般采用擠壓法來判斷。
6,raRg6
在有些書中用平面干涉儀來判斷。見附件圖示。請問,這種根據干涉條紋的形狀判斷待測面是凸還是凹有什么理論依據?
l_lK,=cLj+
謝謝!
附件:
利用平面檢測儀檢測光學表面.rar
(9 K) 下載次數:325
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zcg_hit
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發(fā)表于: 2007-08-28
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marker
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發(fā)表于: 2007-08-28
大力支持大力支持,謝謝分享拉
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lblovegf
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發(fā)表于: 2007-09-20
大力支持大力支持,謝謝分享拉
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一休
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發(fā)表于: 2007-10-29
好好看看物理光學中的 干涉原理啊、、、
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tianya9699
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發(fā)表于: 2007-11-05
干涉就是這樣形成的。
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leeyan
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6樓
發(fā)表于: 2007-11-28
就是看高低光圈嘛
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ddm
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7樓
發(fā)表于: 2007-11-28
這個純粹是干涉原理 , 與待測物是凹是凸 , 并沒有差異 .
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anttyzhou
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8樓
發(fā)表于: 2007-11-28
光線照射到B面上時,由于是凹面,光程長,為了等光程,只有向d0較小的方向偏移.因此展現出了上圖的彎曲.
a