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    [求助]光學表面檢測的理論依據(jù) [復制鏈接]

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    離線易水河
     
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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2007-08-25
    各位大俠： `+UBl\j  
        在光學冷加工車間來判斷光學表面是否符合要求，一般采用擠壓法來判斷。 %PK(Z*>  
        在有些書中用平面干涉儀來判斷。見附件圖示。請問，這種根據(jù)干涉條紋的形狀判斷待測面是凸還是凹有什么理論依據(jù)？ V[7D4r.j  
        謝謝！
    附件: 利用平面檢測儀檢測光學表面.rar (9 K) 下載次數(shù):325
     
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    離線zcg_hit
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    只看該作者 1樓 發(fā)表于: 2007-08-28
    大力支持大力支持
    離線marker
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    只看該作者 2樓 發(fā)表于: 2007-08-28
    大力支持大力支持，謝謝分享拉
    離線lblovegf
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    只看該作者 3樓 發(fā)表于: 2007-09-20
    大力支持大力支持，謝謝分享拉
    離線一休
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    只看該作者 4樓 發(fā)表于: 2007-10-29
    好好看看物理光學中的 干涉原理啊、、、
    離線tianya9699
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    只看該作者 5樓 發(fā)表于: 2007-11-05
    干涉就是這樣形成的。
    離線leeyan
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    只看該作者 6樓 發(fā)表于: 2007-11-28
    就是看高低光圈嘛
    離線ddm
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    只看該作者 7樓 發(fā)表于: 2007-11-28
    這個純粹是干涉原理 , 與待測物是凹是凸 , 并沒有差異 .
    離線anttyzhou
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    只看該作者 8樓 發(fā)表于: 2007-11-28
    光線照射到B面上時,由于是凹面,光程長,為了等光程,只有向d0較小的方向偏移.因此展現(xiàn)出了上圖的彎曲. 'yV*eG?^&  
    同理,如果B面是凸面,光程短,為了等光程,只有向d0較大的方向偏移.因此展現(xiàn)出了(b)圖的條紋
    離線xiaonaigao
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    只看該作者 9樓 發(fā)表于: 2008-01-19
    看看先