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    [求助]光學(xué)表面檢測(cè)的理論依據(jù) [復(fù)制鏈接]

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    離線易水河
     
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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2007-08-25
    各位大俠： (WK $ )f  
        在光學(xué)冷加工車間來(lái)判斷光學(xué)表面是否符合要求，一般采用擠壓法來(lái)判斷。 *HmL8c  
        在有些書中用平面干涉儀來(lái)判斷。見附件圖示。請(qǐng)問(wèn)，這種根據(jù)干涉條紋的形狀判斷待測(cè)面是凸還是凹有什么理論依據(jù)？ \<VwGbzFi  
        謝謝！
     
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    離線zcg_hit
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    只看該作者 1樓 發(fā)表于: 2007-08-28
    大力支持大力支持
    離線marker
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    只看該作者 2樓 發(fā)表于: 2007-08-28
    大力支持大力支持，謝謝分享拉
    離線lblovegf
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    只看該作者 3樓 發(fā)表于: 2007-09-20
    大力支持大力支持，謝謝分享拉
    離線一休
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    只看該作者 4樓 發(fā)表于: 2007-10-29
    好好看看物理光學(xué)中的 干涉原理啊、、、
    離線tianya9699
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    只看該作者 5樓 發(fā)表于: 2007-11-05
    干涉就是這樣形成的。
    離線leeyan
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    只看該作者 6樓 發(fā)表于: 2007-11-28
    就是看高低光圈嘛
    離線ddm
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    只看該作者 7樓 發(fā)表于: 2007-11-28
    這個(gè)純粹是干涉原理 , 與待測(cè)物是凹是凸 , 并沒(méi)有差異 .
    離線anttyzhou
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    只看該作者 8樓 發(fā)表于: 2007-11-28
    光線照射到B面上時(shí),由于是凹面,光程長(zhǎng),為了等光程,只有向d0較小的方向偏移.因此展現(xiàn)出了上圖的彎曲. v l{hE~  
    同理,如果B面是凸面,光程短,為了等光程,只有向d0較大的方向偏移.因此展現(xiàn)出了(b)圖的條紋
    離線xiaonaigao
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    只看該作者 9樓 發(fā)表于: 2008-01-19
    看看先