本
教程示例遵循P. Lalanne等人[1]研究的基準(zhǔn)問題設(shè)置[2]。同時演示了相同設(shè)置下的FEM性能�；鶞�(zhǔn)問題包括計算由平面波入射的孤立(即非周期)模式中的近場。該幾何
結(jié)構(gòu)由基板上銀膜中的孤立亞
波長狹縫和銀膜中相鄰的平行凹槽組成。平面波垂直入射該裝置，并具有平面內(nèi)電場極化(分別為面外磁場極化)。通過狹縫傳輸?shù)轿挥讵M縫下方特定距離的
探測器區(qū)域的光的能量通量被檢測，并歸一化為通過狹縫的能量通量，在不存在凹槽的第二次
模擬中計算。由于幾何、
光源和
材料的特性，等離子體效應(yīng)導(dǎo)致了歸一化透射對
物理參數(shù)的非常關(guān)鍵的依賴。這使得
標(biāo)準(zhǔn)化傳輸?shù)臏?zhǔn)確計算成為具有挑戰(zhàn)性的基準(zhǔn)問題。
c<J/I_! \"^ .>+ 狹縫槽設(shè)置（左）和用于歸一化的狹縫設(shè)置（右）的三角形網(wǎng)格；灰色：銀膜，藍色：基板，紅色：檢測器區(qū)域，綠色：空氣；請注意金屬角處網(wǎng)格的預(yù)細化。
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計算后場強度，有有限元網(wǎng)格部分（右）和沒有限元網(wǎng)格部分（左）（頂行： 圖 ，底行： 圖 ，偽色標(biāo)）。
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