利揚芯片“一種基于FPGA的光學(xué)芯片測試裝置和方法”專利公布

據(jù)國家知識產(chǎn)權(quán)局公告，利揚芯片新獲得一項發(fā)明專利授權(quán)，專利名為“一種基于FPGA的光學(xué)芯片測試裝置和方法”，專利申請?zhí)枮?CN202110810588.7，授權(quán)日為 2024 年4月19日。

專利摘要：本發(fā)明公開一種基于 FPGA 的光學(xué)芯片測試裝置及方法，本發(fā)明利用 FPGA 板分析來自上位機(jī)的測試激勵指令，以配置芯片的工作狀態(tài)；在芯片生成測試數(shù)據(jù)后，F(xiàn)PGA 板處理接收到的測試數(shù)據(jù)以生成測試結(jié)果，并將測試結(jié)果發(fā)送至上位機(jī)。本發(fā)明通過在 FPGA 板上完成測試配置數(shù)據(jù)的生成、測試數(shù)據(jù)的處理以及測試結(jié)果的生成，不需要將大量測試數(shù)據(jù)返回上位機(jī)作處理，精簡了傳輸?shù)臏y試數(shù)據(jù)，只需要 FPGA 板將測試結(jié)果傳輸至上位機(jī)顯示即可，大大地減少了數(shù)據(jù)傳輸時間，提高了測試效率。由于 ATE 價格昂貴，采用 FPGA 板替代 ATE 減少了測試成本。