茂萊光學(xué)“一種應(yīng)用于鏡片邊厚差的測量裝置”專利公布

據(jù)國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局公告，茂萊光學(xué)新獲得一項(xiàng)實(shí)用新型專利授權(quán)，專利名為“一種應(yīng)用于鏡片邊厚差的測量裝置”，專利申請(qǐng)?zhí)枮镃N202321945268.3，授權(quán)日為2024年1月5日。

專利摘要：本實(shí)用新型公開了一種應(yīng)用于鏡片邊厚差的測量裝置，包括底板以及設(shè)置于底板上的圓盤，所述圓盤上設(shè)有至少三組沿圓周等夾角設(shè)置的滑槽，每條滑槽內(nèi)設(shè)有用于形成鏡托的T型卡塊；底板上于圓盤設(shè)有豎桿，豎桿上部固定有水平桿，水平桿遠(yuǎn)離豎桿的一端垂直設(shè)有用于測量的厚度表。本實(shí)用新型通過在測量板上設(shè)置可移動(dòng)的T型卡塊形成直徑可調(diào)整用于托起鏡片的鏡托，避免因不同尺寸鏡片而設(shè)置不同規(guī)格的圓形治具，不僅擴(kuò)大了裝置的使用范圍，還減小了測量設(shè)備的成本。

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