[技術(shù)]元件內(nèi)部場分析儀：FMM [復(fù)制鏈接]

摘要 @Xq&t}*8  
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圖片:1-231212162159159.png

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元件內(nèi)部場分析器：FMM允許用戶可視化和研究微結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)內(nèi)部的電磁場分布。為此，使用傅立葉模態(tài)法/嚴(yán)格耦合波分析（FMM/RCWA）計算周期性結(jié)構(gòu)（透射或反射、電介質(zhì)或金屬）內(nèi)部的場。還可以指定場的哪一部分應(yīng)該可視化：正向模式、反向模式或兩者同時顯示。 ERfd7V<c>  
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元件內(nèi)部場分析儀：FMM qeQC&U y;  
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元件內(nèi)部場分析器：FMM是光柵光學(xué)裝置的獨有功能，可提供光柵結(jié)構(gòu)內(nèi)部電磁場的可視化。 pAJ=f}",]E  
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