干涉測(cè)量是用于精確測(cè)量中最廣泛應(yīng)用的技術(shù)之一。通過(guò)觀察和研究
條紋圖案，可以判斷表面形狀質(zhì)量或關(guān)于
光譜帶寬的儀表信息。利用
VirtualLab Fusion中非
序列場(chǎng)追跡技術(shù)，可以輕松地設(shè)置和分析
光學(xué)干涉儀。在這里提出兩個(gè)經(jīng)典的基于邁克爾遜干涉儀的例子：一個(gè)高質(zhì)量相干
激光光源，另一個(gè)寬帶白光光源。
+Y}V3(w9X sIy 基于激光的邁克爾遜干涉儀
*wuqa) q2 F>zl9Vi< |?d#eQ9a 借助VirtualLab Fusion中非序列追跡技術(shù)建立了該邁克爾遜干涉儀，并展示了不同配置中的干涉條紋。
Wy4$*$ 8"%RCE 白光邁克爾遜干涉儀
Y4E/?37j TX }T|ri S${Zzt" 模擬使用氙氣燈作為光源的邁克爾遜干涉儀，充分考慮了光源的光譜特性（有限的相干長(zhǎng)度）。
