結(jié)構(gòu)深、角度大、反射差？用共聚焦顯微鏡就對(duì)啦！

隨著超精密加工技術(shù)的不斷進(jìn)步，各種微納結(jié)構(gòu)元件廣泛應(yīng)用于超材料、微電子、航空航天、環(huán)境能源、生物技術(shù)等領(lǐng)域。其中超精密3D顯微測量技術(shù)是提升微納制造技術(shù)發(fā)展水平的關(guān)鍵，中圖儀器自主研發(fā)的白光干涉掃描和共聚焦3D顯微形貌檢測技術(shù)，廣泛應(yīng)用于涉足超精密加工領(lǐng)域的三維形貌檢測與表面質(zhì)量檢測方案。其中，VT6000系列共聚焦顯微鏡，在結(jié)構(gòu)復(fù)雜且反射率低的表面3D微觀形貌重構(gòu)與檢測方面具有不俗的表現(xiàn)。 l70a&[W  
一、結(jié)構(gòu)深、角度大 it Byw1/  
電子產(chǎn)品中一些光學(xué)薄膜表面存在一些特殊的微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)表現(xiàn)為窄而深的“V形”、“金字塔”。白光干涉儀在測量此類結(jié)構(gòu)時(shí)，由于形貌陡峭、角度大，無法形成干涉條紋信號(hào)，或條紋寬度過窄而無法準(zhǔn)確地解調(diào)出深度信息。VT6000系列共聚焦顯微鏡基于針孔點(diǎn)光源的共軛共焦原理，其依托弱光信號(hào)解析算法可以完整重建出近70°陡峭的復(fù)雜的結(jié)構(gòu)形狀。 7gX#^YkE+k  
二、反射差、信號(hào)弱 iJ&*H)}^  
碳纖維紙類的表面反射率低，結(jié)構(gòu)復(fù)雜且呈立體狀。白光干涉儀因其對(duì)樣品表面反射形成的干涉條紋光信號(hào)對(duì)比度要求較高，而碳紙表面纖維絲的立體角度大，導(dǎo)致部分位置因反射率低形成的干涉條紋對(duì)比度較低甚至無法形成干涉條紋，從而難以解調(diào)出深度信息。VT6000系列共聚焦顯微鏡在此展現(xiàn)出其對(duì)弱光信號(hào)解析能力優(yōu)勢，對(duì)樣件表面的低反射率特性適應(yīng)能力更強(qiáng)。 ,>YW7+kY  
中圖儀器以其自主研發(fā)的共聚焦顯微鏡，與早前推出的白光干涉儀一起，構(gòu)成光學(xué)3D顯微測量領(lǐng)域的姊妹雙姝，為國內(nèi)超精密加工與微納制造領(lǐng)域提供專業(yè)的3D顯微形貌檢測方案。 F(!9;O5J]  
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是一家專業(yè)的幾何量測量儀器制造商，旗下有專門的微納檢測儀器事業(yè)部，目前有SuperView系列光學(xué)3D表面輪廓儀、VT6000系列共聚焦顯微鏡、CP系列臺(tái)階儀等三大類納米級(jí)3D測量產(chǎn)品。憑借著多年在客戶端應(yīng)用場景下的錘煉，在3D顯微測量領(lǐng)域積累了豐富的開發(fā)與應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)。多年的自主開發(fā)工作，公司在納米傳動(dòng)與掃描技術(shù)、白光干涉與高精度3D重建技術(shù)、尼普科夫轉(zhuǎn)盤共聚焦系統(tǒng)、超分辨率電容傳感掃描技術(shù)、超大區(qū)域無縫縫合技術(shù)等多個(gè)涉及到光、機(jī)、電、算交叉學(xué)科的領(lǐng)域積累了雄厚的技術(shù)實(shí)力。參與過多項(xiàng)國家重大科研項(xiàng)目的攻關(guān)工作并順利通過驗(yàn)收。作為一家銷售服務(wù)網(wǎng)絡(luò)遍布全國的微納檢測儀器制造商，中圖儀器始終致力于為客戶提供專業(yè)的技術(shù)服務(wù)和優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品解決方案。 0Yzm\"Ggv  
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