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摘要 &!#2ZJ}{ _W+Q3Jx-( 高NA物鏡廣泛用于光學(xué)光刻,顯微鏡等。因此,在聚焦仿真中最基本的就是考慮光的矢量性質(zhì)。 使用VirtualLab對(duì)這種鏡頭進(jìn)行光線追跡和場追跡分析非常方便。通過場追跡,可以清楚地展示不對(duì)稱焦斑,這源于矢量效應(yīng)。相機(jī)探測(cè)器和電磁場探測(cè)器為聚焦區(qū)域的研究提供了充分的靈活性,可以讓用戶深入了解矢量效應(yīng)。 S-,kI R<j<.h *^6k[3VY rgT%XhUS6f 建模任務(wù) e[p^p!a 0#
UAjT3 VD4S_qx 概觀 Nh :JU?h 7 s-`QdWX {.#j1r4J` 光線追跡仿真 ]-rczl|o {jUvKB_x •首先選擇“光線追跡系統(tǒng)分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作為仿真引擎。 Fj3^
#ly G4);/# •點(diǎn)擊Go! g1dmkX •獲得3D光線追跡結(jié)果。 )+k[uokj $l43>e{E af^@
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