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摘要 '.%Omc
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A' 斐索干涉儀是工業(yè)中常見的光學計量設備,它們通常用于光學表面質量的高精度測試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡,我們構建了一個菲索干涉儀,并利用它測試了不同的光學表面,例如圓柱形和球形。 可以看出,產生的干涉條紋對表面輪廓具有敏感性。 .*"KCQGOgM SCn)j:gH; 4,YL15. S~m8j|3K 建模任務 xp^Jp N2j^fZd_ TntTR"6aD hc]p^/H 傾斜平面下的觀測條紋 9RSviIi$ >ZgV8X: 7&jq = !YO'u'4<aK 圓柱面下的觀測條紋 "85)2*+ 6e.l#
c!1} 'O2/PU2_ %)d7iT~M 球面下的觀測條紋 =?]S8cth .n.N.e |#xBC+ m#_M"B.cm VirtualLab Fusion 視窗 OM7AK
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