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    [分享]光學(xué)相干斷層掃描的上皮散射自發(fā)熒光強度校正——一個模型的研究 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2020-11-17
    文章來源：H. Pahlevaninezhad , A. M. D. Lee , C. Hyun - Spie Bios – 2013 Proc. of SPIE Vol. 8565 85652S-2 DT&[W<oN  
    ^&uWAQohL  
    本文以實驗結(jié)合光學(xué)軟件FRED來驗證熒光介質(zhì)上覆蓋散射層的影響，結(jié)合AF-OCT系統(tǒng)能夠減少由于上皮組織增厚引起的假陽性，增強AF疾病檢測的功效。 k;3P;@3,W  
    ZLvw]N&R  
    摘要： +Z