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    [推薦]用于微結(jié)構(gòu)晶片檢測的光學(xué)系統(tǒng) [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2020-09-29
    摘要 yGa0/o18!?  
    R{g= N%O  
    在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中，晶片檢測系統(tǒng)用于檢查晶片上的缺陷并找到它們的位置。為保證微結(jié)構(gòu)的圖像解析度，檢測系統(tǒng)常使用一個高NA的物鏡，工作在紫外波長范圍。作為一個例子，模擬了一個完整的晶片檢測系統(tǒng)，包括高NA聚焦效應(yīng)和光與微結(jié)構(gòu)的互作用，并演示了圖像的形成。 mskG2mA  
     4Mt3<W5  
    q[s,q3n~  
    建模任務(wù) b}! cEJY  
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    結(jié)果 'uu*DgEr  
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