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UID:317649
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- 注冊時間2020-06-19
- 最后登錄2025-01-10
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干涉測量作為最重要的光學(xué)測量技術(shù)之一已在各領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。我們將介紹兩個示例,利用輪廓掃描干涉儀測量表面形貌和利用Fabry-Pérot標(biāo)準(zhǔn)具實現(xiàn)光譜測量。得益于非序列擴展功能,這兩個應(yīng)用所采用的系統(tǒng)在VirtualLab中可以輕松地實現(xiàn)設(shè)置。不僅可以清晰地對其工作原理進行描述及可視化,利用非序列場追跡技術(shù)更能夠快速且精確地對這類系統(tǒng)進行分析。 |>z3E z u+{a8= 輪廓掃描干涉測量儀 ;2Q~0a| 利用低相干氙燈光源,邁克爾遜干涉儀可以精確掃描給定樣品的表面輪廓。 +VQ\mA59 -(K9s!C!. 5E
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