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輪廓掃描干涉測(cè)量?jī)x與法布里-珀羅標(biāo)準(zhǔn)具
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樓主
發(fā)表于: 2020-09-24
干涉
測(cè)量作為最重要的
光學(xué)
測(cè)量技術(shù)之一已在各領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。我們將介紹兩個(gè)示例,利用輪廓掃描
干涉儀
測(cè)量表面形貌和利用Fabry-Pérot標(biāo)準(zhǔn)具實(shí)現(xiàn)
光譜
測(cè)量。得益于非
序列
擴(kuò)展功能,這兩個(gè)應(yīng)用所采用的
系統(tǒng)
在
VirtualLab
中可以輕松地實(shí)現(xiàn)設(shè)置。不僅可以清晰地對(duì)其工作
原理
進(jìn)行描述及可視化,利用非序列場(chǎng)追跡技術(shù)更能夠快速且精確地對(duì)這類系統(tǒng)進(jìn)行分析。
J7S
(zUERw\aX
輪廓掃描干涉測(cè)量?jī)x
Q~uj:A]n<
利用低相干氙燈
光源
,邁克爾遜干涉儀可以精確掃描給定樣品的表面輪廓。
c>I^SY(r%
" >;},$
M7En%sBp
利用
標(biāo)準(zhǔn)
具檢查鈉燈D光
j5tA!o
在VirtualLab Fusion中使用非序列場(chǎng)追跡技術(shù)建模二氧化硅間隔標(biāo)準(zhǔn)具,并用將其于測(cè)量鈉D光。
2TiUo(MK
Xa+ u>1"2"
7+@:wX\
QQ:2987619807
m ?LOd9
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李明1
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1樓
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EnZrnoGM
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