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飛躍小河
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樓主
發(fā)表于: 2020-04-26
摘要
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掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術。 通過利用白光
光源
的低相干性,僅當光程長度差在相干長度內時才會出現干涉圖樣。 因此,它可以實現精確的
顯微鏡
測量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。
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建模任務
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仿真
干涉條紋
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