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    [轉(zhuǎn)載]全場光學(xué)相干掃描干涉儀 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2020-04-26
    摘要 VqvjOeCbH  
    @. $- ^-  
    掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測(cè)量的技術(shù)。 通過利用白光光源的低相干性，僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時(shí)才會(huì)出現(xiàn)干涉圖樣。 因此，它可以實(shí)現(xiàn)精確的顯微鏡測(cè)量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測(cè)量表面平滑變化的樣品。 IV!`~\@  
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    建模任務(wù) O >+=cg  
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    仿真干涉條紋 k L6s49  
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    走進(jìn)VirtualLab Fusion %w[Z/  
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    VirtualLab Fusion中的工作流程 O6/ vFEB  
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    •設(shè)置輸入場 *GoTN  
           −基本光源模型[教程視頻] $m#^0%  
           •使用導(dǎo)入的數(shù)據(jù)自定義表面輪廓 XX /s@C  
           •定義元件的位置和方向 nS3Aadm  
           − LPD II：位置和方向[教程視頻]QQ1824712522     V'{\g|)  
    •正確設(shè)置通道以進(jìn)行非序列追跡 NW5OLa")J<  
    −非序列追跡的通道設(shè)置[用例] ;6``t+]q   
           •使用參數(shù)運(yùn)行檢查影響/變化 ? -:2f#bC  
           −參數(shù)運(yùn)行文檔的使用[用例] >Y8\f:KQ  
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    VirtualLab Fusion技術(shù) %gO/mj3*  
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