切換到寬版
  • 廣告投放
  • 稿件投遞
  • 繁體中文
    • 1438閱讀
    • 0回復(fù)

    [轉(zhuǎn)載]全場光學(xué)相干掃描干涉儀 [復(fù)制鏈接]

    		 上一主題 下一主題
    離線飛躍小河
     
    發(fā)帖
    171
    光幣
    88
    光券
    0
    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2020-04-26
    摘要 _!|/ ;Nk  
    hS9;k9w  
    掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術(shù)。 通過利用白光光源的低相干性，僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時(shí)才會出現(xiàn)干涉圖樣。 因此，它可以實(shí)現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測量表面平滑變化的樣品。 p6vKoI#T  
    3"{.37Q  
     ++DG5`  
    ,k G>?4  
    建模任務(wù) k#5}\w!  
    5^j45'%I  
    D0BI5q  
    仿真干涉條紋 asC_$tsMe  
    [b$4Shx  
    n3sUbs;  
    走進(jìn)VirtualLab Fusion xz:J  
    |`;54_f  
    (#;`"Yu  
    B^^r\L9  
    VirtualLab Fusion中的工作流程 mLL340c#\  
    f0T ,ul,  
    •設(shè)置輸入場 >