摘要
5f5ZfK3<i mAzW'Q4D 高NA物鏡廣泛用于
光學(xué)光刻,
顯微鏡等。因此,在聚焦
仿真中最基本的就是考慮光的矢量性質(zhì)。 使用VirtualLab對(duì)這種
鏡頭進(jìn)行
光線追跡和場(chǎng)追跡分析非常方便。通過(guò)場(chǎng)追跡,可以清楚地展示不對(duì)稱焦斑,這源于矢量效應(yīng)。
相機(jī)探測(cè)器和電磁場(chǎng)探測(cè)器為聚焦區(qū)域的研究提供了充分的靈活性,可以讓用戶深入了解矢量效應(yīng)。
8`2K=`]ES+ <fJ\AP5 DkIFvsLK ry0 =N^ 建模任務(wù)
sn(}5; f/yK|[g~ LPO" K"'w 概觀
wu')Q/v 5glGlD6R #"_MY- 光線追跡仿真
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_. gISs+g •首先選擇“光線追跡
系統(tǒng)分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作為仿真引擎。
H~Cfni; >y[S?M •點(diǎn)擊Go!
GN0'-z6Uy •獲得3D光線追跡結(jié)果。
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