光學(xué)平面的干涉檢測發(fā)展至今,檢測精度已經(jīng)大大提高,而高精度的平面檢測很大程度上受限于參考平面的精度,針對參考平面面形對檢測結(jié)果的影響,利用絕對平面檢測方法,通過多次測量以達到消除參考平面偏差的目的。從測量方式和計算方法兩個方面分析了不同絕對平面檢測方法的原理,介紹了最新發(fā)表的相關(guān)成果以及研究動態(tài),并對比了檢測結(jié)果。這些檢測方法已經(jīng)精確到像素級,并通過多種計算方法使得峰谷(PV)值的計算精度大部分達到了λ/100。