光學(xué)平面的干涉檢測發(fā)展至今,檢測精度已經(jīng)大大提高,而高精度的平面檢測很大程度上受限于參考平面的精度,針對參考平面面形對檢測結(jié)果的影響,利用絕對平面檢測方法,通過多次測量以達(dá)到消除參考平面偏差的目的。從測量方式和計(jì)算方法兩個(gè)方面分析了不同絕對平面檢測方法的原理,介紹了最新發(fā)表的相關(guān)成果以及研究動(dòng)態(tài),并對比了檢測結(jié)果。這些檢測方法已經(jīng)精確到像素級,并通過多種計(jì)算方法使得峰谷(PV)值的計(jì)算精度大部分達(dá)到了λ/100。