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    • 一種大口徑光學(xué)元件光熱特性檢測(cè)裝置及方法

    作者：佚名 來源：網(wǎng)絡(luò) 時(shí)間：2024-09-22 20:13 閱讀：238 [投稿]
    本發(fā)明公開了一種大口徑光學(xué)元件光熱特性檢測(cè)裝置及方法，包括泵浦模塊、探測(cè)模塊和調(diào)平對(duì)焦模塊；泵浦激光光源出射的連續(xù)激光通過斬波器調(diào)制后經(jīng)過透鏡鏡組聚焦照射到樣品表面。

    據(jù)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局公告，浙江大學(xué)、杭州利珀科技有限公司取得一項(xiàng)名為“一種大口徑光學(xué)元件光熱特性檢測(cè)裝置及方法”，授權(quán)公告號(hào)CN118010318B，申請(qǐng)日期為2024年2月。

    專利摘要顯示，本發(fā)明公開了一種大口徑光學(xué)元件光熱特性檢測(cè)裝置及方法，包括泵浦模塊、探測(cè)模塊和調(diào)平對(duì)焦模塊；泵浦激光光源出射的連續(xù)激光通過斬波器調(diào)制后經(jīng)過透鏡鏡組聚焦照射到樣品表面；探測(cè)激光光源出射的連續(xù)光源經(jīng)過透鏡鏡組照射到泵浦光聚焦點(diǎn)同一區(qū)域內(nèi)且完全覆蓋泵浦聚焦光斑，經(jīng)過光學(xué)元件反射并通過濾光片及針孔后由光電探測(cè)器接收；接收到的信號(hào)通過鎖相放大器提取后發(fā)送給計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理；光譜共焦位移傳感器返回實(shí)時(shí)位置，通過算法搭配俯仰偏擺位移臺(tái)自動(dòng)調(diào)平待測(cè)光學(xué)元件，三軸位移臺(tái)調(diào)整掃描對(duì)焦位置，掃描后最終生成整個(gè)光學(xué)元件的吸收率分布圖像。利用本發(fā)明，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)大口徑光學(xué)元件光熱特性的有效準(zhǔn)確檢測(cè)。

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