ka2012 |
2016-08-09 21:39 |
反射式內(nèi)掩日冕儀的光學(xué)設(shè)計與雜散光分析
反射式內(nèi)掩日冕儀的光學(xué)設(shè)計與雜散光分析.PDF,需要的下載。 utV_W& zdam^o 日冕儀的工作特點決定了其對雜散光抑制要求極其嚴(yán)格。根據(jù)反射式日冕儀的工作特點,通過分析其光學(xué)特性以及其抑制系統(tǒng)雜散光的基本原理,設(shè)計了反射式內(nèi)掩日冕儀系統(tǒng)。其中,視場0.67°、口徑47mm、焦距768mm、系統(tǒng)總長1200mm,系統(tǒng)在30lp/mm處的MTF值大于0.6,彌散斑半徑小于2.5um,成像質(zhì)量達到衍射極限。通過分析系統(tǒng)雜散光特點,建立了消雜散光結(jié)構(gòu),使得系統(tǒng)的主要雜散光源被全部抑制。本系統(tǒng)可做到大約10-6-10-8B⊙的雜散光抑制水平,可以實現(xiàn)對日冕的清晰成像觀測。
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