| gangzi0801 |
2021-07-08 12:06 |
光學(xué)窗口電磁屏蔽性能分析與驗(yàn)證
為分析不同基底材料光學(xué)窗口電磁屏蔽性能，以Kohin的等效薄膜模型為基礎(chǔ)，考慮電磁波在材料2個(gè)界面中的多次反射和折射，得到電磁波界面反射系數(shù)，利用matlab編寫程序計(jì)算相同網(wǎng)柵、不同厚度、不同材料的屏蔽效率曲線，分析了厚度和材料對(duì)光窗屏蔽效率的影響。為驗(yàn)證仿真數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，在ZnS基底上制作了周期為500 μm、線寬為15 μm，電阻≤20 Ω的測(cè)試樣片，測(cè)試其在8 GHz～18 GHz頻段的電磁屏蔽效能。通過(guò)對(duì)比可看出：測(cè)試與理論計(jì)算數(shù)據(jù)較符合，誤差約為2 dB～4 dB，計(jì)算數(shù)據(jù)可以預(yù)估光學(xué)窗口電磁屏蔽性能，為后續(xù)的設(shè)計(jì)工作提供參考。
|
|