首頁 -> 登錄 -> 注冊 -> 回復(fù)主題 -> 發(fā)表主題

光行天下 -> 光學(xué)檢測、光學(xué)測量與光機(jī)裝調(diào) -> 點(diǎn)測量激光吸收光譜技術(shù)理論分析 [點(diǎn)此返回論壇查看本帖完整版本]

[打印本頁]

991518

2019-10-27 20:35

點(diǎn)測量激光吸收光譜技術(shù)理論分析

點(diǎn)測量吸收光譜技術(shù)以飽和吸收為基本原理，可有效克服可調(diào)諧二極管激光吸收光譜技術(shù)(TDLAS)的線測量缺陷，通過探測光束與一同頻的飽和光束交叉來提取交叉位置點(diǎn)處的信息，實現(xiàn)具有毫米級空間分辨能力的點(diǎn)測量。本文對點(diǎn)測量吸收光譜技術(shù)進(jìn)行了詳細(xì)的理論分析，推導(dǎo)了飽和光束和探測光束在任意交叉角度下的飽和吸收系數(shù)，分析了飽和參數(shù)對吸收信號的影響。同時提出了一種針對微弱吸收信號的調(diào)制方法，推導(dǎo)了飽和光束在高頻正弦調(diào)制下的探測光一次諧波表達(dá)式，并通過數(shù)值計算得到了驗證。研究還表明，不同階次諧波信號具有相同的半高寬，并且與無調(diào)制時的吸收信號半高寬一致，因此利用多次諧波疊加可進(jìn)一步提高譜線寬度測量的信噪比。

osa66778899	2021-03-23 11:00
好書，收藏了

查看本帖完整版本: [-- 點(diǎn)測量激光吸收光譜技術(shù)理論分析 --] [-- top --]