問題背景
{7'Wi$^F 對于任何需要制造的
系統(tǒng),公差分析都是一個必需的復(fù)雜的互動過程。包括:
:y'EIf Ø 確定制造和裝配公差目標(biāo)
!mHMFwvS Ø 確定制造和調(diào)校補償器,以及補償方案
cD6S;PSg 成功公差分析需要能夠精確預(yù)測單個公差的靈敏度和整個系統(tǒng)的實際加工性能,包括補償器的影響。當(dāng)使用了合適的工具,公差分析能夠降低:
G%iTL"6 & 6'Rc#\P Ø 非重復(fù)成本如設(shè)計時間,定義裝調(diào)過程
x<5ARK6\= Ø 重復(fù)性成本如系統(tǒng)制造,裝配和調(diào)校因此公差分析可以幫助降低成本。
'.EO+1{a 顯微
物鏡案例
s|IY
t^ Ø 數(shù)值孔徑0.65
*IX<&u# Ø 放大率40倍
h?[|1.lJx( Ø 筒長180mm
6S`0<Z;;/ Ø 視場直徑0.5mm
~jC+6v Ø 可見光
波長(d,F(xiàn),C)
=' uePM") Ø 目標(biāo)分辨率450線對每毫米
VWq]w5oQO Yw] 7@ V6Mt;e)C 系統(tǒng)
結(jié)構(gòu)圖
y+3+iT@i % IHIXncv[ TyDh\f!w 光扇圖和場曲圖
m<H{@ZgN( `AYq,3V $Nd,6w*` 軸上
視場和全視場點列圖
&AN1xcx\ Nv=78O1 m _cRK}> MTF曲線和數(shù)值
,qx^D 從上面的圖形可以看出,標(biāo)稱系統(tǒng)受限于:
8EI9&L> Ø 軸向色差
m9vX8;. Ø 橫向色差
Jsl2RdI Ø 色球差
Kci. ,I Ø 場曲
AbxhNNK 預(yù)期的公差分配目標(biāo):
\yl|*h3 Ø 限制450線對多色MTF下降
{`QA.he. ■ 0.7視場內(nèi)最大下降0.1
)/?H]o$NU ■ 全視場最大下降0.15
c/Xg ARCO 公差方案
;$WHTO( Ø 以默認(rèn)TOR分析起始,確立基準(zhǔn)性能并找出問題所在
D/?Ec\t ■ 默認(rèn)反靈敏度模式計算引起相同性能下降的每個公差值
=:aJZ[UU<2 Ø 根據(jù)中間結(jié)果,執(zhí)行額外分析
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