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    [討論]大口徑鏡片粗糙度測(cè)量難題 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2013-05-31
    對(duì)于光學(xué)表面的評(píng)價(jià),可以有兩個(gè)重要指標(biāo):表面面形和表面粗糙度。一般地,光學(xué)表面面形通過干涉儀來測(cè)量;而粗糙度一般采用光學(xué)輪廓儀或掃描探針顯微鏡測(cè)量。我們這里主要討論粗糙度的測(cè)量問題。 fk>{  
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        對(duì)于小尺寸元件來說,這些方法都是可行的。然而,對(duì)于大尺寸元件,比如口徑大于300mm或500mm甚至1m的元件,很多方法都受到了測(cè)量環(huán)境的限制。 `ah|BV  
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        除粗糙度要求接近0.1nm RMS的表面外,一般光學(xué)表面都采用光學(xué)輪廓儀測(cè)量。這種方法比較直接,操作簡(jiǎn)單。但是在使用中,都要求在隔振平臺(tái)。這是由于這類儀器原理導(dǎo)致的,雖然是近距離的測(cè)量,但是振動(dòng)會(huì)對(duì)這種納米級(jí)測(cè)量帶來噪聲誤差,從而導(dǎo)致測(cè)量失敗。 >gM"*Laa?  
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        光學(xué)輪廓儀對(duì)于振動(dòng)噪聲的要求,比普通干涉儀更苛刻,因?yàn)槠?span onclick="sendmsg('pw_ajax.php','action=relatetag&tagname=分辨率',this.id)" style="cursor:pointer;border-bottom: 1px solid #FA891B;" id="rlt_7">分辨率要求在納米級(jí)。因而很難做出滿足要求的大尺寸的隔振平臺(tái)。這也限制了輪廓儀測(cè)量的元件的尺寸。因此,目前對(duì)于大尺寸的光學(xué)元件的粗糙度測(cè)量,一般無法直接測(cè)量。 x#zj0vI-8  
    6-J}ZfGj  
        動(dòng)態(tài)光學(xué)輪廓儀NanoCam Sq,就是在這種情況下出現(xiàn)的。 這臺(tái)設(shè)備在2011年的美國(guó)光博會(huì)上首次亮相。這臺(tái)設(shè)備主要解決了兩個(gè)測(cè)量難題:1)復(fù)雜現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境下的粗糙度測(cè)量;2)大尺度鏡面的粗糙度測(cè)量。 @7.7+blS"H  
    - _6`0  
        原理: 經(jīng)典的顯微相移干涉原理(PSI),只是在同一時(shí)間獲得所有的相位信息。4D將他們的動(dòng)態(tài)相移干涉技術(shù)擴(kuò)展到了顯微干涉術(shù),從而開發(fā)出了這種動(dòng)態(tài)光學(xué)輪廓儀。 dG]B-(WTC  
    9PV+Kr!c5I  
     
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