CEO制造生產(chǎn)了一系列的用于高功率QCW的陣列產(chǎn)品。這些產(chǎn)品采用熱膨脹系數(shù)匹配熱沉技術(shù)以及硬封裝技術(shù)，進(jìn)而最大限度的提高器件的可靠性。這些產(chǎn)品的壽命測試結(jié)果在這里做了總結(jié)。這些測試量化了QCW陣列和相關(guān)
激光增益模塊的可靠性。這里給出了原始的壽命測試數(shù)據(jù)，并對其進(jìn)行了統(tǒng)計(jì)分析。這些結(jié)論對于激光
系統(tǒng)設(shè)計(jì)者是很有用的。該壽命測試展示了這些陣列在不同的運(yùn)行區(qū)域的高水平的可靠性。如單條陣列的MTTF發(fā)射次數(shù)預(yù)測可高達(dá)198億次，四條陣列的MTTF發(fā)射次數(shù)也測可高達(dá)146億次。另外，也對一個(gè)大的泵浦源條件陣列的壽命進(jìn)行了分析，可以看到預(yù)期的壽命為135億次發(fā)射次數(shù)。這比在重復(fù)率低于370Hz的運(yùn)行條件預(yù)期的運(yùn)行壽命高了10000個(gè)小時(shí)。
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