[分享]淺析光學反射式分布測量技術(shù) [復制鏈接]

介紹了以光時域反射儀（OTDR）為代表的光學鏈路連續(xù)分布參數(shù)的的反射式測量技術(shù)。在闡明OTDR基本測量原理和實現(xiàn)方式的基礎上，著重討論了時域相關(guān)測量，頻域測量和干涉測量技術(shù)各自的特點及對測量精度的改進。 3w/( /|0  
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一、概述 ADYx.8M|9i  
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光學分布探測是一種適用于光纖等連續(xù)光學鏈路的特征參數(shù)測量的技術(shù)。反射式分布探測是基于測量光背向散射信號，由光傳輸特性的變化來探測、定位和測量光纖鏈路上因熔接、連接器、彎曲等造成的光學性能改變。光時域反射儀OTDR是這種技術(shù)的典型應用。OTDR可以測量整個光纖鏈路的衰減并提供與長度有關(guān)的衰減細節(jié),測量具有非破壞性、測量過程快速方便、結(jié)果準確直觀的特點。因此在生產(chǎn)、研究以及通信等領域有廣泛應用。為了提高測量性能，在OTDR的基礎上提出了時域相關(guān)測量，頻域測量和干涉測量等改進的測量技術(shù)。 e&$p-0DmT|  
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