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    [分享]FRED v10.41正式發(fā)布(附新特性介紹) [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2011-04-07
    FRED v10.41現(xiàn)已正式發(fā)布,部分新特性如下: <r}wQ\F#  
    (=j;rfvP  
    1.單元組件(Element Composites) J*;RL`  
    單元組件結(jié)構(gòu)允許通過(guò)加減等布爾操作創(chuàng)建復(fù)雜的實(shí)體模型,一旦進(jìn)行定義,組件便可作為動(dòng)態(tài)實(shí)體用以修正模型元件,而且單元組件可用STEP或IGES格式的文件輸出到CAD中。 %,\JTN|g|A  
    9xR5Jm>k  
    2.線圈表面(Coil Surface) UGAV"0  
    線圈型表面定義為沿一個(gè)螺旋線選擇而成的圓形截面,螺旋線的對(duì)稱軸為Z軸。線圈型表面有四個(gè)參數(shù):螺旋半徑(R)、圓半徑(r)、線圈節(jié)距(pitch)和線圈軋數(shù)。 T.da!!'B f  
    ?X@!jB,Pv  
    3.光柵位相(Grating Phase) S f?;j{?G  
    默認(rèn)的光柵設(shè)置增加了位相連續(xù)變化選項(xiàng);另外,光柵數(shù)(number of grating lines)參數(shù)允許用戶定義零相位點(diǎn)。 aqON6|6K  
    !Gmnck&+  
    4.分析結(jié)果節(jié)點(diǎn) (ARNs) ?+]=|hN  
    在目標(biāo)樹(shù)中創(chuàng)建了分析結(jié)果文件夾,右擊鼠標(biāo)即可進(jìn)行相應(yīng)設(shè)置并在圖形窗口顯示。 |.k'?!  
    .\ Ijq!  
    5.圖像偽影診斷工具(Image Artifact Diagnostic Tool) =Dn <DV  
    在用高級(jí)光線追跡選項(xiàng)設(shè)置路徑使能進(jìn)行光線追跡時(shí),對(duì)某個(gè)特定區(qū)域的光線路徑信息可進(jìn)行報(bào)表輸出,進(jìn)而可直接進(jìn)行非相干空間分析。 -Q20af-  
    G^.N$wcv  
    6.雜散光報(bào)表/光線路徑輸出(Stray Light Report / Raypaths Output) D0Q9A]bD;  
    雜散光報(bào)表輸出(Output Stray Light Report)和光線路徑報(bào)表輸出(Output Path Report)對(duì)話框可復(fù)制輸出窗口中的數(shù)據(jù)列表,這在后處理中非常有用,該選項(xiàng)尤其在復(fù)制路徑信息到FRED輸出窗口并傳遞到其它分析程序或文檔中非常方便。 $cSUB  
    ,iV%{*p]