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    [分享]光學(xué)測頭的原理與應(yīng)用 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2010-07-28
    光學(xué)測量作為一種非接觸式測量方法,在某些方面與接觸式三坐標(biāo)測量相比具有本質(zhì)上的優(yōu)勢。它不使用接觸式測針進(jìn)行采點,而是利用了光的物理特性來進(jìn)行測量,這樣就能夠完全避免測針補(bǔ)償帶來的潛在問題,也使被測物體表面不再受到測針接觸帶來的影響。而光學(xué)測頭的測量速度通常也遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于觸發(fā)式測頭。首先,光學(xué)測頭的采點方式都是連續(xù)的,不需要進(jìn)行測針歸位;而且在采點過程中,光學(xué)測頭也區(qū)別于觸發(fā)式測頭:觸發(fā)式測頭會因為接觸物體表面時速度過快而被認(rèn)為發(fā)生了碰撞,而光學(xué)測頭則完全不會出現(xiàn)這個問題。 mjtmN0^SR  
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