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    [求助]有關(guān)tracepro求光學(xué)系統(tǒng)各表面光功率密度的問題 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2008-03-26
    我想用tracepro求一個全反射光學(xué)系統(tǒng)各反射面的光功率密度 vB%os Qm  
    具體工具是grid trace Ii&\LJ  
    不過我發(fā)現(xiàn)追跡光線數(shù)目不同，最后的結(jié)果相差很大 #M)+sK$H%f  
    應(yīng)該是追跡的光線數(shù)越多結(jié)果越準(zhǔn)確 <Ej`zGhWz  
    可是追跡1.5百萬左右的光線的時候，電腦內(nèi)存就耗盡了（2g） 2}n7f7[/b  
    請高手指教以下！！ mt]^d;E  
    萬分感謝��！
     
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