關(guān)鍵在于重點采樣的設(shè)置。 l/56;f\IA
前提已經(jīng)設(shè)置好光機模型和光機零件的表面特性。 _>G=xKA#e
步驟為: Wfh+D[^
1.從焦面或探測器出發(fā),倒追出得到系統(tǒng)的所有關(guān)鍵面。 Uk4G9}I
2.將所有關(guān)鍵面重點采樣目標(biāo)設(shè)置在直接看見它的鏡面。調(diào)整好合適的閾值,勾上重點采樣的光線追擊選項,開始追擊。 aTE;Gy,W
3.追擊后,分析到達(dá)焦面的雜光組成。保留3~5個主要雜光入侵途徑,其余刪去,可極大提高追擊效率,又不妨礙追擊準(zhǔn)確性。