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    [技術(shù)]馬赫澤德干涉儀 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 05-10
    摘要 g/n"N>L  
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     <uWJ>sg^ 6  
    (AyRs7Dkn  
    干涉測量法是一項用于光學(xué)測量的重要技術(shù)。它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓、缺陷、機(jī)械和熱變形的高精度測量。作為一個典型示例，在非序列場追跡技術(shù)的幫助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。該例證明了光學(xué)元件的傾斜和位移對干涉條紋圖的影響。 juve9HaW  
     'xu7AKpU)  
    建模任務(wù) j,gM+4V^  
    A61-AwvF8-  
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    由于組件傾斜引起的干涉條紋 y7}~T!UyfF  
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    由于偏移傾斜引起的干涉條紋 52q!zx E  
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