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    [技術(shù)]光纖耦合系統(tǒng)的公差分析 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 04-24
    摘要 m]}%Ag^x  
    MZ9{*y[z  
    在我們的上一期技術(shù)簡訊中,我們將焦點(diǎn)放在光纖耦合設(shè)置的參數(shù)優(yōu)化上,采用快速物理光學(xué)建模和設(shè)計(jì)軟件 VirtualLab Fusion 為您提供的用戶友好型工具,以實(shí)現(xiàn)光纖耦合的最大效率,。然而,實(shí)踐中良好的光學(xué)設(shè)計(jì)的特征不僅在于可以最大化特定評(píng)價(jià)函數(shù)的參數(shù)的最佳組合。另一個(gè)關(guān)鍵方面是它的穩(wěn)健性:由于設(shè)計(jì)過程中假設(shè)的條件在現(xiàn)實(shí)環(huán)境中無法完美滿足,因此合乎邏輯的下一步是分析系統(tǒng)幾何形狀的微小偏差如何影響整體結(jié)果。 !{On_>` ,  
    t4HDt\}&k~  
    為此,VirtualLab Fusion 中的參數(shù)運(yùn)行允許用戶執(zhí)行參數(shù)掃描。作為一個(gè)例子,我們分析了設(shè)計(jì)良好的光纖耦合透鏡在不同公差因素下的耦合效率,例如光纖末端位置的橫向偏移和耦合透鏡的傾斜。此外,下面提供了對(duì)參數(shù)運(yùn)行的掃描模式的深入研究,其中研究了參數(shù)空間的二維區(qū)域(具有結(jié)果可視化的其他可能性)。 kFCjko  
    光纖耦合裝置的公差分析 @log=^  
    `{1` >5  
    1E3'H7k\t  
    在光纖耦合光學(xué)裝置中,耦合效率是根據(jù)光纖末端位置偏移和透鏡傾斜等公差因素進(jìn)行分析的。 R^t )~\d  
    參數(shù)運(yùn)行掃描模式
    >b^|SL  
    HI+87f_Q  
    fg[]>:ZT.  
    Parameter Run 文檔的掃描模式會(huì)生成一系列指定參數(shù)變化的所有組合的模擬,并提供適合的輸出選項(xiàng)。
     
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