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    [技術]全場光學相干掃描干涉儀 [復制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 04-09
    摘要 B<99-7x3  
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    掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性，僅當光程長度差在相干長度內(nèi)時才會出現(xiàn)干涉圖樣。 因此，它可以實現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。 7Rba@ cs9  
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    仿真干涉條紋