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    [技術(shù)]馬赫澤德干涉儀 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 04-07
    摘要 Xi+n`T'i  
    nX 8B;*p6b  
     |*1xrM:v~  
    6 >uQt:e  
    干涉測量法是一項(xiàng)用于光學(xué)測量的重要技術(shù)。它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓、缺陷、機(jī)械和熱變形的高精度測量。作為一個(gè)典型示例，在非序列場追跡技術(shù)的幫助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。該例證明了光學(xué)元件的傾斜和位移對干涉條紋圖的影響。 D!me%;  
     2-7Z(7G{ F  
    建模任務(wù) Wl TpX`  
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     -R8/`M8GbD  
    UOJ*a1BM  
    由于組件傾斜引起的干涉條紋 b~9`]+