切換到寬版
  • 廣告投放
  • 稿件投遞
  • 繁體中文
    • 211閱讀
    • 0回復(fù)

    [技術(shù)]馬赫澤德干涉儀 [復(fù)制鏈接]

    		 上一主題 下一主題
    離線infotek
     
    發(fā)帖
    5189
    光幣
    20253
    光券
    0
    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 04-07
    摘要 _M t Qi  
    % /}WUP^H  
     Quzo8 u  
    VK:8 Nk_y  
    干涉測(cè)量法是一項(xiàng)用于光學(xué)測(cè)量的重要技術(shù)。它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓、缺陷、機(jī)械和熱變形的高精度測(cè)量。作為一個(gè)典型示例，在非序列場(chǎng)追跡技術(shù)的幫助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。該例證明了光學(xué)元件的傾斜和位移對(duì)干涉條紋圖的影響。