LucidShape CAA 進(jìn)階分析模組現(xiàn)可支援
光譜分析，并新增多項(xiàng)實(shí)用功能：
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$ - 可將色彩分析應(yīng)用于現(xiàn)有和新的量測(cè)中，包括許多法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)化的量測(cè)。這些量測(cè)與量測(cè)數(shù)據(jù)網(wǎng)格整合在一起，讓使用者能夠在一個(gè)表格中驗(yàn)證強(qiáng)度和顏色規(guī)則。顏色分析支援多種顏色空間以及工程基本元素，例如普朗克(Planckian) 軌跡、亥姆霍茲(Helmholtz) 坐標(biāo)和MacAdam 橢圓。 &
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- 可在不同的分頁中打開多個(gè)UV 數(shù)據(jù)視圖，并自定義分頁位置，便于并排比較。 }Gy M<!:
- 當(dāng)查看駕駛員視圖或一組UV 數(shù)據(jù)檔案時(shí)，可辨識(shí)一組數(shù)據(jù)中的一個(gè)點(diǎn)，并查看它在其他相關(guān)數(shù)據(jù)集中的映射位置。例如，若在組合UV 數(shù)據(jù)檔案中存在一個(gè)故障點(diǎn)，您可以從UV數(shù)據(jù)檔案中的其他位置確定這個(gè)故障點(diǎn)所在的位置。 #3'M>SaoH
- 進(jìn)階分析現(xiàn)支援IES、LT 網(wǎng)格和Ford Photometric UV 數(shù)據(jù)檔案。 |{_>H '
- 支援更多線路量測(cè)，可控制切片圖是依照弧線長(zhǎng)度表示或是沿軸投影。還可對(duì)切片圖進(jìn)行覆蓋比較。
