簡介 2SEfEkk %"V Y) FRED能夠提供用戶有關(guān)通過光機(jī)
系統(tǒng)任意
鬼像和散射路徑的詳細(xì)情況。我們簡單地設(shè)置
光學(xué)和機(jī)械的物理屬性 (涂層、
材料、散射模型等)，設(shè)置一個(gè)合適的
光源，并且讓FRED記錄下在
光線追跡時(shí)系統(tǒng)所有唯一的路徑。當(dāng)光線追跡完成時(shí)，我們可以對光線追跡的路徑進(jìn)行后期處理，來提取出與我們系統(tǒng)相關(guān)的路徑。
q%,q"WU hZ!N8nWwNR 然而，假設(shè)我們對于表征一個(gè)
光學(xué)系統(tǒng)中的初級鬼像路徑很感興趣，或者我們的系統(tǒng)沒有完全的開發(fā)或改進(jìn)，來保證一個(gè)長的多階次的雜散光分析。本文介紹了一個(gè)腳本，可以在一個(gè)導(dǎo)入的序列設(shè)計(jì)中對初級鬼像路徑進(jìn)行自動(dòng)分析。我們首先來討論合理地設(shè)置分析中導(dǎo)入的序列文件的過程，然后討論腳本的運(yùn)行以及執(zhí)行分析的過程。
a6"Pe07t 6rMGl zuRo 指定表面涂層性質(zhì) &Cp)\` [y qcz Gv2%! 分析的要點(diǎn)是找出多少功率(以及功率的分布)到達(dá)了我們的焦平面，這是由在我們的
透鏡表面之間的鏡面系列的現(xiàn)象產(chǎn)生的，這些都不是“設(shè)計(jì)”路徑。舉個(gè)例子，我們第一個(gè)透鏡元件內(nèi)的內(nèi)部反彈可能會(huì)到達(dá)探測器，我們希望可以量化它的貢獻(xiàn)。
tsR\c O~/ HMJx[ yD 為了產(chǎn)生鬼像路徑，我們的透鏡需要有涂層覆蓋，這可以讓入射能量的一些部分以反射和透射的方式傳播。默認(rèn)情況下，導(dǎo)入的透鏡表面具有100%透射涂層，將沒有任何鬼像產(chǎn)生。我們可以瀏覽透鏡的每一個(gè)光學(xué)表面，然后給每個(gè)表面應(yīng)用一個(gè)非理想的涂層模型，不過FRED確實(shí)提供了一個(gè)界面，使得這一過程變得不那么單調(diào)乏味。點(diǎn)擊Menu > Edit > Edit/View Multiple Surfaces，該界面提供了一個(gè)技巧，可以非常簡單的完成多表面性質(zhì)賦予作業(yè)。
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